MEC光と技

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FE欠陥③検査対象例

FE欠陥③

FE欠陥はフィルム内の異物や樹脂の塊が起因で発生する欠陥となります。この欠陥は異物単体でも検出可能ですが、欠陥全体を検出する場合は2DF処理を使用して検出します。

透明フィルムのその他の検査対象例

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