MEC光と技

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キズ欠陥②検査対象例

キズ欠陥②

キズ欠陥は外的要因で発生する欠陥の一つです。この欠陥は流れ方向に発生した長キズ欠陥となります。ファイバー照明を使用することで検出しやすい欠陥となります。この欠陥は目視でも確認が難しい欠陥となるため、2DF処理を利用した検出となります。

透明フィルムのその他の検査対象例

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