MEC光と技

株式会社メック

欠陥検出原理

搬送される検査対象製品に対し、ラインセンサーカメラで搬送速度に同期し、1スキャンずつ画像データを取り込みます。取り込んだ画像データは、予め設定した「明/暗」の2つの検出感度(明閾値/暗閾値)と比較(2値化)し閾値を超えたものを、欠陥候補として取り込みます。

  • 明閾値を超える場合は、明欠陥候補
  • 暗閾値を超える場合は、暗欠陥候補

欠陥候補となった、各スキャン毎の画像データについては、「高速連結処理」を実施し、画像データを製品搬送方向に連結することで、欠陥候補間の繋がりを認識し、欠陥候補毎に位置、面積、幅、長さ、明/暗種類等の特徴量を正確に抽出します。

検出感度(明閾値/暗閾値)の定義

検出感度は、検査対象の正常部に対する相対透過率(反射率)により定義します。相対透過率で定義することにより、全画素に亘って均一で再現性の高い検出感度を得ることができます。

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