FE欠陥

FE欠陥はフィルム内の異物や樹脂の塊が起因で発生する欠陥となります。この欠陥は樹脂単体でも検出可能ですが、欠陥全体を検出する場合は2DF処理を使用して検出します。透過光学系にて検出しやすい欠陥です。