メック検査機にできることTechnology

センシング、サイズ情報、特徴量等の項目を総合的に比較し、お客さまのニーズに沿った分類を実現します。検査条件へ欠陥モード毎の分類に加え、重大・軽微等のランクを任意に設定することが可能になります。検査後、分類・ランクごとに欠陥の表示/非表示選択が可能なため、欠点位置や欠点数の詳細が把握でき、製品品質の判定が容易になります。

欠点検出後に、欠陥部へのマーキングが可能です。ラベラー方式、インクジェットプリンタ方式、レーザーマーカー方式、ペンマーカーを使用した方式など、用途に応じた各種マーキング 装置を取り揃えています。欠陥部分直上へのマーキング対応も可能です。

メックが独自に開発した照明技術「クロス光ファイバー照明」は、幅数μmレベルのキズを安定的に検出できる特殊照明装置です。プラスチックファイバーに一定の角度を付けライン配置。ライン照明でありながら幅方向（TD）に射出角のある照明を実現。長尺4000mmにも対応できます。

一般的に使用されるライン状照明装置では、キズ欠陥部での光の散乱は微弱であり、キズ欠陥によるコントラスト差はほとんど生じません。これに対し、クロス光ファイバー照明装置では、製品正常部での光はカメラにほとんど入光せず、キズ欠陥部で散乱した光のみがカメラに入光します。これにより、数μm幅のキズ（長キズ、短キズ、鎖状キズ等）が安定検出可能となります。

検査装置に実装されているソフトウェアは社内で設計/製作しています。従って、ソフトウェア改造等のカスタム対応が柔軟且つ、スピーディーに対応できます。