フィルム検査装置のメック

品質保証Quality assurance


同一の基準による欠陥検出が行えるため、検査員によるバラつきや見逃しが発生しません。

また、目視では検出困難である「微細・微小」な欠陥もメック独自の欠陥強調処理テクノロジーにより安定した検出が可能です。

検査条件の設定で『欠陥モード毎の分類』『重大・軽微等のランク』等を設定し、管理することができます。

また、欠陥の発生位置や欠陥数の状態をリアルタイムに確認できるため、品質判定が容易となります。


AIを用いた画像解析機能で分類を細分化する事が可能です。

欠陥の詳細分類

  • エンドユーザーとの取り決めで製品毎にNGの規格が細かく設定されており、検査装置でも同様の規格でOK・NGを判定したい

標準の分類機能にてサイズ・濃度情報等を基に最大100種類に分類可能です。また、AIを使用したリアルタイム画像分類オプションを追加する事で、より人の目に近い欠陥分類が可能となります。


幅方向にマーキングユニット移動させる機構を追加する事で、欠陥にダイレクトマーキングをする事ができ、欠陥位置を正確に把握できます。IJP・レーザーでは欠陥No. や欠陥情報、○、□といった記号で欠陥を囲って印字する事が可能です。

導入効果一覧