基材フィルム（ベースフィルム）Base materials Films

異物は幅広い検査対象にて発生する欠陥です。主に生産ラインの金属粉や樹脂の塊、虫、ホコリ等が要因となります。透過光学系によって検出が可能です。

フィッシュアイは製膜時の樹脂塊が起因で発生する欠陥です。透過光学系にて検出が可能です。

穴（ピンホール）はフィルムに穴が空いている若しくは、未貫通で膜厚の薄くなっている欠陥です。透過光学系によって検出が可能です。

汚れは外的要因で発生する欠陥です。検出例ではスジ状の汚れが斜めに発生しておりますが、形状は様々です。散乱光を用いた透過又は反射光学系にて検出が可能です。

ダコンは外的要因で発生する事が多い欠陥で、凹凸の中心に核がありません。指向性を強めた透過光学系（エッジ透過）にて検出が可能です。

キズは外的要因で発生する欠陥です。検出例のような幅数μmレベルのキズの場合、クロス光ファイバ照明を用いた透過光学系にて検出が可能です。