フィルム検査装置のメック

光学フィルムOptical film

異物

代表欠陥例

異物は幅広い検査対象にて発生する欠陥です。主に生産ラインの金属粉や樹脂の塊、虫、ホコリ等が要因となります。透過光学系によって検出が可能です。

輝点

代表欠陥例

輝点は光学フィルム特有の欠陥です。カメラ側や照明側に偏光フィルムを取り付けたクロスニコル透過によって検出が可能です。

ダコン

代表欠陥例

ダコンは外的要因で発生する事が多い欠陥で、凹凸の中心に核がありません。指向性を強めた透過光学系(エッジ透過)にて検出が可能です。

キズ

代表欠陥例

キズは外的要因で発生する欠陥です。検出例のような幅数μmレベルのキズの場合、クロス光ファイバ照明を用いた透過光学系にて検出が可能です。

ハジキ

代表欠陥例

ハジキは異物や凹凸起因のコーティング不良により発生する欠陥です。反射光学系にて検出が可能です。

欠陥検出例一覧