フィルム検査装置のメック

その他シート状製品Other sheets

異物

代表欠陥例

異物は幅広い検査対象にて発生する欠陥です。主に生産ラインの金属粉や樹脂の塊、虫、ホコリ等が要因となります。透過光学系によって検出が可能です。

凹凸

代表欠陥例

凹凸欠陥は外的要因で発生する欠陥です。弱い凹凸の場合、照明側へ特殊なフィルタを取付けるケースがあります。指向性を強めた透過光学系(エッジ透過)にて検出が可能です。

汚れ

代表欠陥例

汚れは外的要因で発生する欠陥です。検出例ではスジ状の汚れが斜めに発生しておりますが、形状は様々です。散乱光を用いた透過又は反射光学系にて検出が可能です。

シワ

代表欠陥例

シワは製品が変形し、型が付いた欠陥です。目視でも判別のしづらい欠陥のため、光学系の配置を工夫する必要があります。指向性を強めた透過光学系(エッジ透過)にて検出が可能です。

欠陥検出例一覧