フィルム検査装置のメック

MLA-5000
半導体製造工程用フィルム検査装置

半導体製造工程用フィルムにおける
「外観検査と寸法測定」
をリアルタイムに計測いたします。

製品1枚ずつに対してOK、NGの判定が可能です。

検査対象

  • 半導体工程用テープ

仕様

機種 MLA-5000
提案構成 バックグラインドテープ(BGテープ)/ダイシングテープ(DCテープ)/ダイアタッチフィルム(DAF)/ダイシングダイアタッチフィルム(DDAF)
搭載カメラ 自社設計ラインセンサカメラ(~16384画素)
カメラ最大接続台数 8台
検出処理 ソフトウェア(専用PC)
照明装置 LED照明 各種
標準機能 寸法測定

オプション

リアルタイム画像分類 標準搭載
マーキングユニット
ソフトウェアカスタム

要求仕様によっては対応不可ものがございます

製品情報一覧